前言:
光刻工藝是半導體器件制造工藝的核心步驟之一,光刻成本約占整個硅片制造工藝的1/3,耗費時間約占整個硅片工藝的40%-60%,而光罩在其中扮演著無可替代角色,其作用是將設計好的電路圖形轉移到硅片上,為后續(xù)的刻蝕、離子注入等工序提供基礎。隨著半導體產(chǎn)業(yè)鏈向中國轉移,中國逐漸成長為全球半導體最大的需求市場,晶圓制造產(chǎn)能也隨之擴張,進而帶動光罩行業(yè)需求增加。全球光罩行業(yè)高端市場被日本、美國及部分歐洲企業(yè)占據(jù),但隨著國家對半導體產(chǎn)業(yè)高度重視及產(chǎn)業(yè)政策的大力扶持,國產(chǎn)光罩迎來快速發(fā)展的黃金時期。
1、光罩發(fā)展歷程
根據(jù)觀研報告網(wǎng)發(fā)布的《中國光罩行業(yè)發(fā)展趨勢研究與未來投資分析報告(2025-2032年)》顯示,光罩是在制作IC的過程中,利用光蝕刻技術,在半導體上形成圖型,為將圖型復制於晶圓上,必須透過光罩作用的原理,類似于沖洗照片時,利用底片將影像復制至相片上。
18世紀末,法國人約瑟夫·尼塞福爾·涅普斯用瀝青涂層的錫版制作世界上首塊“光罩”,通過日光曝光將窗外景色印在金屬板上——這種原始的成像邏輯,與今天半導體光罩驚人地相似。
1960年代至1970年代,第一代光罩使用鉻玻璃(COG)技術。鉻層作為不透明材料定義圖案,石英或玻璃基板提供穩(wěn)定性。這一時期建立了光罩制造的基本工藝,包括光刻、濕法刻蝕和電子束(e- beam)寫入。
20世紀80年代,隨著光學投影系統(tǒng)的普及,光罩技術得到了顯著提升,出現(xiàn)先進的光刻膠材料以及更加精確的刻蝕工藝。
1990年代引入相位移光罩(PSM),通過操控光的相位來提高分辨率和焦深,這是光罩技術的一次重大突破。交替式PSM和衰減式PSM成為支持0.35μm以下技術節(jié)點的重要手段。
20世紀50至60年代,當半導體器件從簡單的二極管和晶體管發(fā)展為集成電路時,對精確圖案轉移的需求變得顯而易見。早期的光罩較為簡單,由涂有鉻層的玻璃板組成,用于定義基本電路布局。
2010年代至今,EUV光刻技術的出現(xiàn)對光罩提出新的要求。EUV光罩采用13.5nm的波長,需使用反射式光罩而非透射式光罩。
薄膜保護罩原理
資料來源:公開資料整理
2、半導體產(chǎn)業(yè)鏈的“咽喉要道”,光罩作用大
光刻工藝是半導體器件制造工藝的核心步驟之一,光刻成本約占整個硅片制造工藝的1/3,耗費時間約占整個硅片工藝的40%-60%,而光罩在其中扮演著無可替代角色,其作用是將設計好的電路圖形轉移到硅片上,為后續(xù)的刻蝕、離子注入等工序提供基礎。
光線透過光罩的透明區(qū)域,這里的透明區(qū)域與遮光區(qū)域由鉻層等材料精準界定,進而將光罩上精心設計的電路圖案投影到涂有光刻膠的晶圓表面,即為曝光。
光罩曝光示意圖
資料來源:公開資料整理
3、晶圓制造產(chǎn)能擴張,帶動光罩行業(yè)需求增長
2010年以來,隨著半導體產(chǎn)業(yè)鏈向中國轉移,中國逐漸成長為全球半導體最大的需求市場,晶圓制造產(chǎn)能也隨之擴張,進而帶動光罩行業(yè)需求增加。根據(jù)數(shù)據(jù)顯示,2023-2025年,我國新增晶圓產(chǎn)能由548.50千片/月增長至593.89千片/月。
數(shù)據(jù)來源:觀研天下整理
4、光罩高端市場被國外企業(yè)所占據(jù),清溢光電、龍圖光罩等國產(chǎn)企業(yè)加速崛起
而在市場競爭方面,全球光罩行業(yè)高端市場被日本、美國及部分歐洲企業(yè)占據(jù),在高端光罩制造、核心材料供應及尖端檢測設備領域占據(jù)主導地位。例如,美國的Photronics作為全球最大的獨立第三方光罩制造商,在半導體、平板顯示等多個領域的光罩制造方面具有深厚的技術積累。該公司成立于1969年,經(jīng)過多年的發(fā)展,通過持續(xù)的研發(fā)投入和技術創(chuàng)新,掌握一系列先進的光罩制造技術。在光學鄰近校正(OPC)技術方面,Photronics 能夠通過精確的算法和先進的軟件工具,對光罩上的圖案進行優(yōu)化,以補償光刻過程中的光學畸變,從而提高芯片制造的精度和良率。
而我國光罩市場地位在全球產(chǎn)業(yè)鏈較低,2020年前基本上處于低技術水平,如清溢光電、路維光電和龍圖光罩工藝能力大多集中在0.25-0.5微米之間。不過,隨著國家對半導體產(chǎn)業(yè)高度重視及產(chǎn)業(yè)政策的大力扶持,國產(chǎn)光罩迎來快速發(fā)展的黃金時期。例如,龍圖光罩自2010年入局半導體掩模版業(yè)務,經(jīng)過多年的技術攻關,將工藝節(jié)點從1μm提升至130nm。目前,龍圖光罩已實現(xiàn)130nm工藝節(jié)點半導體掩模版的量產(chǎn),具備±20nm的CD精度和套刻精度,其技術實力和工藝能力在國內(nèi)第三方半導體掩模版廠商中居于前列地位。其產(chǎn)品已經(jīng)通過中芯集成、士蘭微、積塔半導體、新唐科技、比亞迪半導體、立昂微、燕東微、粵芯半導體、長飛先進、揚杰科技等多個國內(nèi)知名晶圓制造廠商的認證。
清溢光電也在不斷突破,通過與國內(nèi)科研機構合作,引進先進人才,清溢光電在光罩制造的關鍵技術環(huán)節(jié)取得了重要進展,如在光罩的缺陷檢測與修復技術方面,開發(fā)出了具有自主知識產(chǎn)權的檢測算法和修復工藝,有效提高了光罩產(chǎn)品的質(zhì)量和良品率。同時,為實現(xiàn)更高制程節(jié)點的高端半導體光罩的開發(fā)及產(chǎn)業(yè)化,進一步打破境外領先廠商壟斷格局,提高國家在半導體產(chǎn)業(yè)鏈領域的國產(chǎn)化進程及自主可控能力,擴充公司產(chǎn)品類型、提升公司產(chǎn)品競爭力,清溢光電進一步建設高端半導體掩模版生產(chǎn)基地。
清溢光電新增核心工藝技術
核心技術 |
技術簡介 |
應用 |
技術來源 |
對應的專利情況 |
是否屬于成熟技術 |
0.35-0.18umIC掩膜版,TP測量技術 |
0.35-0.18um IC掩膜版,TP測量工藝開發(fā) |
IC掩膜版 |
自主研發(fā) |
計劃待技術進一步深化后申請專利 |
應用于生產(chǎn) |
基于反射光缺陷檢測技術研發(fā)項目 |
基于反射光缺陷檢測技術研發(fā)項目 |
IC掩膜版 |
自主研發(fā) |
計劃待技術進一步深化后申請專利 |
應用于生產(chǎn) |
基于多腔體的清洗技術研發(fā) |
基于多腔體的清洗技術研發(fā) |
IC掩膜版 |
自主研發(fā) |
計劃待技術進一步深化后申請專利 |
應用于生產(chǎn) |
高精度IC掩膜版缺陷檢測技術 |
高精度IC掩膜版缺陷檢測技術研發(fā) |
IC掩膜版 |
自主研發(fā) |
計劃待技術進一步深化后申請專利 |
應用于生產(chǎn) |
IC光罩CD精度提升到130nm產(chǎn)品工藝開發(fā) |
CD精度提升到130nm產(chǎn)品工藝開發(fā) |
IC掩膜版 |
自主研發(fā) |
已獲得一份實用新型專利“用于掩模版的上板盒” |
應用于生產(chǎn) |
資料來源:觀研天下整理
清溢光電佛山生產(chǎn)基地項目投資規(guī)劃(半導體)
項目名稱 |
項目期數(shù) |
投資內(nèi)容 |
投資金額(億元) |
籌資安排 |
總投資額(億元) |
高端半導體掩膜版生產(chǎn)基地建設項目 |
一期 |
主要生產(chǎn)產(chǎn)品為覆蓋250nm-65nm制程的高端半導體掩膜版。投資內(nèi)容主要包括土地購置、廠房建設、設備購置等。 |
6.05 |
募資、自有資金、自籌資金 |
15 |
二期 |
初步規(guī)劃擬新增凈化房面積,購置生產(chǎn)設備以擴充產(chǎn)能。 |
2.95 |
自有資金、自籌資金 |
||
三期 |
尚未有初步規(guī)劃,后續(xù)公司將根據(jù)宏觀環(huán)境、市場趨勢等情況綜合確定推進。 |
6 |
自有資金、自籌資金 |
資料來源:觀研天下整理(WYD)

【版權提示】觀研報告網(wǎng)倡導尊重與保護知識產(chǎn)權。未經(jīng)許可,任何人不得復制、轉載、或以其他方式使用本網(wǎng)站的內(nèi)容。如發(fā)現(xiàn)本站文章存在版權問題,煩請?zhí)峁┌鏅嘁蓡枴⑸矸葑C明、版權證明、聯(lián)系方式等發(fā)郵件至kf@chinabaogao.com,我們將及時溝通與處理。